作为无损3D成像系统性能的，石景山蔡司发布了全新的显微CT(microCT)系统Xradia CrystalCT™，使工业和科研实验室能够实现各种金属和合金、增材制造、陶瓷以及药物样品和其他多晶材料 三维晶体成像提供了解决方案。

　　蔡司显微CT(microCT)系统Xradia CrystalCT是在传统CT的基础上设计的，旨在提供衍射对比断层扫描(DCT)成像，这也是DCT技术在全球范围内商业化。它允许研究人员将 3D 晶体学信息与吸收对比断层扫描数据有机地结合起来。 Zeiss Xradia CrystalCT 是蔡司与实验室衍射成像先驱 Xnovo Technology ApS 共同开发的最新 Xradia 平台，提供 DCT 成像。

　　Zeiss Xradia CrystalCT 是一种基于微米 CT 的商用实验室衍射对比断层扫描 (DCT) 系统。与传统的破坏性3D晶体成像方法相比，无缝大体积晶粒成像使实验数据量更具代表性。

　　先进的采集模式，可实现自由拼接扫描，快速准确获取3D颗粒数据。先进的数据采集模式，可通过无针扫描方式快速准确地获取3D颗粒数据。大尺寸样品的成像能力减少了实验室中的许多限制，可以分析更多的样品类型和更少的样品制备时间，从而缩短整体分析时间。更快的采集速度可以缩短样品运行时间，从而提高实验室分析效率。

　　对金属等材料的晶体结构进行成像并量化材料内的晶体取向的能力有助于理解和优化材料特性。微米CT无损成像的特点促进了对可控外场环境下原位微结构演化的理解。

　　例如热处理、机械加工和模拟环境对材料行为的影响。这些研究有助于评估新的、更轻、更坚固的先进材料的性能和耐用性，并解决功能、安全性和改进经济性等问题。